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論文

Disruption amelioration experiments in JT-60U and JET

芳野 隆治; 閨谷 譲; 伊世井 宣明; 小出 芳彦; 河野 康則; A.Tanga*; Campbell, D. J.*; M.F.Johnson*; L.Rossi*

IAEA-CN-60/A5-8, 0, p.685 - 695, 1995/00

主ディスラプションは、トカマク型核融合炉を開発する上で大きな問題であり、大型トカマク装置JT-60UとJETでは、主ディスラプションの緩和を目的とした研究を進めてきている。本論文は、これら両装置における最新の実験成果について報告し、ITERなどの大型トカマク炉におけるディスラプション回避とその緩和策について指針を与えることを目的としている。特に、以下の3点についての実験結果を示す。(1)主ディスラプションの緩和と回避(2)プラズマ電流クウェンチ中の垂直位置不安定性と逃走電子の抑制(3)ロックモードディスラプションの回避

論文

Operational scenarios to avoid disruptions in JT-60U

芳野 隆治; 閨谷 譲; 伊世井 宣明; 松川 誠; 細金 延幸

プラズマ・核融合学会誌, 70(10), p.1081 - 1101, 1994/10

JT-60Uで観測されるディスラプションは、その原因により6つのタイプに分類できる。それらは、密度限界、誤差磁場、$$beta$$$$_{P}$$崩壊、低l$$_{i}$$、高l$$_{i}$$、垂直位置不安定性である。本論文では、これらのディスラプションの原因について解明するとともに、それらを回避する運転シナリオについて示している。これらの回避法は、JT-60Uで開発されたものであり、トカマク型核融合炉に対しても有効であると考えられる。さらに、ディスラプションの研究において得られた新しい知見についても示している。

論文

Softening of Current quenches in JT-60U

芳野 隆治; 閨谷 譲; 細金 延幸; S.W.Wolfe*; 松川 誠; 二宮 博正

Nuclear Fusion, 33(11), p.1599 - 1612, 1993/00

 被引用回数:34 パーセンタイル:71.51(Physics, Fluids & Plasmas)

ディスラプションにおける、プラズマ電流低減速度の緩和(低速化)と、逃走電子の抑制に関わる一般的手法の開発を目的として、JT-60Uダイバータプラズマにおける電流クウェンチを調べた。その結果、1)エネルギークウェンチ時の不純物発生の軽減、2)その不純物の主プラズマへの混入の抑制、及び、3)電流クウェンチ時の電子温度の高温化が、プラズマ電流低減速度を緩和するのに有効であることを明らかにした。具体的な手法としては、エネルギークウェンチ直前の蓄積エネルギーを下げることにより、不純物発生量を低減できること、実効安全係数を増大することにより、不純物の主プラズマへの混入を抑制できること、さらに、電流クウェンチ時のNB加熱により、電子温度の低減を抑制できることを示した。一方、逃走電子の発生は、エネルギークウェンチ直前の電子密度を増大することにより、回避できることを明らかにした。以上の結果を用いて、-6MA/sのプラズマ電流の急速低減を実証した。

論文

ディスラプションによるエネルギー損失とディスラプションの統計的な分析

細金 延幸; 米川 出; 伊丹 潔; 中村 博雄; 木村 豊秋; 西谷 健夫; 芳野 隆治

核融合研究, 65(SPECIAL ISSUE), p.323 - 340, 1991/03

次期装置設計に必要なディスラプション特性について、JT-60において実験によって調べた。熱崩壊速度は最小時間で0.1msec、電流消滅時間は全ての電流範囲で最小6msecであった。ダイバータへの熱流はIRTVカメラシステムによって計測し、1100$$^{circ}$$C以上の温度を観測した。パルス幅は、約0.8msecであった。熱は、定常的な熱流位置から5cm外へずれた位置に出現する。磁気エネルギー放出に対する主要な損失チャンネルは放射損失であるディスラプションの統計的な分析から、NB加熱のディスラプションのうち、回避できない要因のものは、1.8%と極くわずかであることが判明した。

報告書

Study of Electric Phenomena in Energy Dumping of LCT Coil

岡 皓一*; 辻 博史; 西 正孝; 島本 進

JAERI-M 8726, 21 Pages, 1980/03

JAERI-M-8726.pdf:0.99MB

現在、設計および製作を進めているIEA-LCTコイルについて、コイルクエンチに伴う電気的諸問題を解析的および実験的に検討した。我国が製作するヘリウム浸漬冷却コイルでは、耐電圧の面からクエンチ保護抵抗0.1$$Omega$$を選定し、それでコイル温度上昇の面でも問題ないことを確認した。6個組合せコイル試験では、1個のコイルがクエンチした場合他の全てのコイルもダンプする必要があり、その場合でも、コイル保護抵抗が互いに大きく相異すると、ダンプ電圧の上昇を招き、好ましくない。ダンプ時発生電圧に対する巻線スペーサの絶縁耐力については、パンケーキ間絶縁を模擬した試験試料を製作し、液体ヘリウム、気体ヘリウム、ならびに液体ヘリウム中に気体ヘリウム気泡が発生した状態で絶縁破壊試験を行い、実コイルについてはかなりの裕度があることが判明した。

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